存储器的测试技术

Page 1

存储器的测试技术 Testing Techniques for Memories 王　健　李金凤　边福强　刘　欢 (沈阳化工学院信息工程学院 ,辽宁　沈阳 110142) 摘　要 :集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器 ,字存储器 , 　　多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间 ,故障覆盖率 ,面积开支之间进行折衷。关键词 :存储器测试 ;功能故障模型 ;March 算法 ;BIST 　　在一个包含嵌入式存储器 ,微处理器 ,DSP 处理器及模拟电路的通用超大规模集成电路中嵌入式存储器是最难测试的电路。测试存储器需要用大量的测试模式来激活存储器并将存储器的单元内容读出来与标准值进行比较。测试通常采用 BIST 的结构 ,该结构不仅可以大大的降低昂贵的存储器测试仪的使用 ,同时又可以降低测试时间 ,包括测试控制器 ,地址产生器 ,数据产生器 ,数据比较器四个部分。 1 　单端口存储器的测试 2003 年 Zaid al - Ars 和 Ad J. van de Goor 提出了一套较完备的单端口存储器的故障模型 ,它包含四部分 :静态故障 ,动态故障 , 静态耦合故障 , 动态耦合故障。存储器的测试通常采用 March 算法 ,常用的 March 算法包括 MATS+ + ,March C- , March X, March Y, March B , March U , March G等。SAID HAMDIOUI 提出动态故障的 March RAW 算法如图 1 所示 ,通过仿真试验可验证 March RAW 算法即可以测试静态故障又可以测试动态故障。　{ 　(w0) ; 　Θ(r0 ,w0 ,r0 ,r0 ,w1 ,r1) ; Θ(r1 ,w1 ,r1 ,r1 ,w0 ,r0) ; 　Τ (r0 ,w0 ,r0 ,r0 ,w1 ,r1) ; Τ (r1 ,w1 ,r1 ,r1 ,w0 ,r0) ; 　　(r1) } 图 1 　MAarch RAW 算法 2 　字存储器测试存储器可分为位存储器和字存储器两种结构。通常字存储器的测试采用反复的应用位存储器的测试算法来实现的 ,每次循环时改变数据背景。这种方法的缺点是测试的时间长 ,且不能测试字内故障。所谓的字内故障是指存储器中同一个字的不同位之间的故障 ,字存储器测试的关键技术即是字内故障的测试。字内故障的测试首先要利用状态图来分析位宽 B=2 时各种故障的每种子类型的观测条件 ,综合出最优的数据序列和操作序列 , 并将位宽扩展至 B>2 的情形。

下一页

文档基本属性
文档格式：	PDF
文档标题：	存储器的测试技术
文档作者：	TTOD Co., Ltd
关键词：
主题：
单位：
文档创建者：	TTOD CAJ2PDF
创建时间：
上次保存时间：
修订：
点击这里显示更多文档属性
文档语言：
经理：
备注：
分类：
上次保存者：
修订次数：
编辑时间：
加密标识：
幻灯片：
段落数：
字节数：
备注：
演示格式：